马尔MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量仪
MarSurf XCR 20 粗糙度和轮廓测量站
在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓
这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和
轮廓测量。
根据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。
这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和
轮廓测量。
根据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。
- 节省空间型设计:两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱
- 一次测量即可完成粗糙度和轮廓评估
- 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行高精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和极高的分辨率
- 只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件即可快速更换粗糙度和轮廓测量
- 技术参数:
- 配置清单:
MarSurf XCR 20 包含计算机、MidRange Standard、MarSurf XCR 20 软件、Mahr 许可密钥
TFT 显示器
MarSurf PCV 200 / MarSurf GD 25 驱动装置
MarSurf ST 500 测量立柱包含组装支架
校准套件,PGN-3
MCP 21 手动控制面板
CT 300 XY 工作台
- 可选附件:
- MarSurf PCV 200 轮廓驱动装置
- MarSurf GD 25 粗糙度驱动装置
- MarSurf ST 750 测量立柱
- 平行虎钳
- 设备工作台
- 软件选项:
- 轮廓处理选项
- 主波纹度选项
- 用户定义参数
- 拓扑选项
- QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
- 螺纹评定选项