蔡司X射线显微镜,蔡司Xradia Context microCT断层扫描测量机是一款大观察视野、无损 3D X射线微焦点计算断层扫描系统。可满足多种 3D 表征和检测需求的成像，不仅能够在3D全景中展示完整大样品的内部细节，还能针对小样品使用大的几何放大倍数实现高分辨率和高衬度成像观察细节特征。此设备建立在历经考验的蔡司Xradia平台之上，图像质量、稳定性和易用性均属上乘，且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。

产品特点
1. 实测体素分辨率可达500nm
2. 大视野成像能力，单次扫描即可对宽度达 140 mm、高度达 93 mm 的大样品进行成像
3. 出色的高纯度 X 射线滤光片，可根据样品进行射线硬化矫正
4. 强大的自动漂移校正模式，先进的射线硬化去除算法
5. 先进的特殊算法保证获取高质量的成像结果
6. 高端的硬件配置，包括稳定的源、灵敏的探测器以及高精度4轴马达台等
7. 用户可自定义样品任意位置局部放大成像
8. 易用的操作流程
9. 可升级为X射线显微镜

应用领域
1. 材料科学，如三维无损分析
2. 生命科学，如微观结构成像
3. 地球科学，如三维成像
4. 工业领域，如检测分析